Configurare experimentală pentru posttratarea fasciculului de electroni a suprafeței pieselor Ti - 6Al - 4V.

Imaginea (a) și profilul de suprafață (b) al unei probe Ti - 6Al - 4V depuse prin procesul de fabricație în formă liberă a fasciculului de electroni EBF 3.

Imaginea SEM (a) și profilurile corespunzătoare direcționate paralel (b) și perpendiculare pe direcția de construcție (c) a eșantionului EBF 3 -fabricat Ti - 6Al - 4V înainte (profilurile 1, 3) și după tratarea fasciculului de electroni (profilurile 2), 4).

Microstructura cerealieră a probei EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V în direcțiile longitudinale (a) și transversale (b).

Microstructură în suprafața exterioară (a, b) și regiunea de bază (c) a probei EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V în starea așa cum este construită.

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b - d) și modelul asociat cu difracția electronică a zonei selectate (SAED) (e) a microstructurilor din stratul de suprafață cel mai exterior al eșantionului Ti-6Al-4V fabricat EBF 3. b - imaginea TEM a câmpului întunecat obținută cu reflexiile 00 2 ¯ α-Ti și 11 ¯ 0 β-Ti (marcate cu o săgeată 1 în (e)), c - imaginea TEM a câmpului întunecat obținută cu 10 2 ¯ Reflecții α-Ti și 2 ¯ 00 β-Ti (marcate cu o săgeată 2 în (e)), d - imagine TEM pe câmp întunecat obținută cu reflexiile 1 ¯ 10β-Ti și 002α ″ -Ti (marcate cu o săgeată 3 în (e)).

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul asociat cu difracția electronică a zonei selectate (SAED) (d) a microstructurilor din stratul de suprafață cel mai exterior al eșantionului Ti-6Al-4V din EBF 3. b — imaginea TEM în câmp întunecat obținută cu reflexiile 002α ″ -Ti, 1 ¯ 10β-Ti și 002 TiO 2 (marcate cu o săgeată 1 în (d)), c — imaginea TEM în câmp întunecat obținută cu 022 Reflecție TiO 2 (marcată de o săgeată 2 în (d)).

Imagini cu câmp luminos STEM (a, b) și TEM (c) ale microstructurilor miezului eșantionului Ti-6Al-4V din EBF 3.

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b) și modelul asociat SAED (c) al microstructurilor miezului probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V. Imaginea TEM pe câmp întunecat obținută cu reflexia 00 2 ¯ β-Ti (marcată cu o săgeată 1 în (c)).

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul asociat SAED (d) al microstructurilor nucleului eșantionului EBF 3 -fabricat Ti - 6Al - 4V. b — imagine TEM cu câmp întunecat obținută cu reflexia 1 1 ¯ 1α-Ti (marcată cu o săgeată 1 în (d)), c — imagine TEM cu câmp întunecat obținută cu reflexia 1 ¯ 00α-Ti (marcată cu o săgeată 2 în (d)).

Modele de difracție cu raze X ale construcției (1 - stratul de suprafață cel mai exterior, 2 - regiunea miezului) și Ti - 6Al - 4V probă iradiată (3 - stratul de suprafață topit, 4 - zona afectată de căldură).

Vedere în plan (a, b) și secțiune transversală (c) imagini SEM ale probelor EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V supuse tratamentului fasciculului de electroni.

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul SAED asociat (d) al microstructurilor stratului de suprafață topit al probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V supuse tratamentului fasciculului de electroni. b — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 1 ¯ 1 α-Ti (marcată de o săgeată 1 în (d)). c — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 ¯ 00 α ″ -Ti (marcată cu o săgeată 2 în (d)).

Distribuția micro-durității Vickers de la suprafața exterioară la miezul probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V în starea așa cum este construită (1) și după tratamentul continuu al fasciculului de electroni (2).

Stresul ingineresc de tracțiune - curbele de deformare pentru eșantioane construite (curba 1), lustruite mecanic (curba 2) și Ti iradiate - 6Al - 4V (curba 3).

Imagini SEM în secțiune transversală a eșantioanelor Ti-6Al-4V (c) supuse la tensiune uniaxială pentru ε = 2% (a), 8% (b) și 6% (c).

Abstract

metale

Configurare experimentală pentru posttratarea fasciculului de electroni a suprafeței pieselor Ti - 6Al - 4V.

Imaginea (a) și profilul de suprafață (b) al unei probe Ti - 6Al - 4V depuse prin procesul de fabricație în formă liberă a fasciculului de electroni EBF 3.

Imaginea SEM (a) și profilurile corespunzătoare direcționate paralel (b) și perpendiculare pe direcția de construcție (c) a probei fabricate EBF 3 Ti - 6Al - 4V înainte (profilurile 1, 3) și după tratarea fasciculului de electroni (profilurile 2), 4).

Microstructura cerealieră a probei EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V în direcțiile longitudinale (a) și transversale (b).

Microstructură în suprafața exterioară (a, b) și regiunea de bază (c) a probei EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V în starea așa cum este construită.

Imagini TEM strălucitoare (a) și cu câmp întunecat (b - d) și modelul asociat cu difracția electronică a zonei selectate (SAED) (e) a microstructurilor din stratul de suprafață cel mai exterior al eșantionului Ti-6Al-4V fabricat EBF 3. b - imaginea TEM a câmpului întunecat obținută cu reflexiile 00 2 ¯ α-Ti și 11 ¯ 0 β-Ti (marcate cu o săgeată 1 în (e)), c - imaginea TEM a câmpului întunecat obținută cu 10 2 ¯ Reflecții α-Ti și 2 ¯ 00 β-Ti (marcate cu o săgeată 2 în (e)), d - imagine TEM pe câmp întunecat obținută cu reflexiile 1 ¯ 10β-Ti și 002α ″ -Ti (marcate cu o săgeată 3 în (e)).

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul asociat cu difracția electronică a zonei selectate (SAED) (d) a microstructurilor din stratul superficial exterior al eșantionului Ti-6Al-4V din EBF 3. b — imaginea TEM în câmp întunecat obținută cu reflexiile 002α ″ -Ti, 1 ¯ 10β-Ti și 002 TiO 2 (marcate cu o săgeată 1 în (d)), c — imaginea TEM în câmp întunecat obținută cu 022 Reflecție TiO 2 (marcată de o săgeată 2 în (d)).

Imagini cu câmp luminos STEM (a, b) și TEM (c) ale microstructurilor miezului probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V.

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b) și modelul asociat SAED (c) al microstructurilor nucleului eșantionului Ti-6Al-4V fabricat EBF 3 Imaginea TEM pe câmp întunecat obținută cu reflexia 00 2 ¯ β-Ti (marcată cu o săgeată 1 în (c)).

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul asociat SAED (d) al microstructurilor miezului probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V. b — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 1 ¯ 1α-Ti (marcată cu o săgeată 1 în (d)), c — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 ¯ 00α-Ti (marcată cu o săgeată 2 in (d)).

Modele de difracție cu raze X ale construcției (1 - stratul de suprafață cel mai exterior, 2 - regiunea miezului) și Ti - 6Al - 4V probă iradiată (3 - stratul de suprafață topit, 4 - zona afectată de căldură).

Vedere în plan (a, b) și secțiune transversală (c) imagini SEM ale probelor EBF 3-fabricate Ti - 6Al - 4V supuse tratamentului fasciculului de electroni.

Imagini TEM luminoase (a) și cu câmp întunecat (b, c) și modelul SAED asociat (d) al microstructurilor stratului de suprafață topit al probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V supuse tratamentului fasciculului de electroni. b — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 1 ¯ 1 α-Ti (marcată de o săgeată 1 în (d)). c — imagine TEM în câmp întunecat obținută cu reflexia 1 ¯ 00 α ″ -Ti (marcată cu o săgeată 2 în (d)).

Distribuția micro-durității Vickers de la suprafața exterioară la miezul probei EBF 3 -fabricate Ti - 6Al - 4V în starea așa cum este construită (1) și după tratamentul continuu al fasciculului de electroni (2).

Stresul ingineresc la tracțiune - curbele de deformare pentru eșantioane construite (curba 1), lustruite mecanic (curba 2) și Ti iradiate - 6Al - 4V (curba 3).

Imagini SEM în secțiune transversală a eșantioanelor Ti-6Al-4V (c) supuse la tensiune uniaxială pentru ε = 2% (a), 8% (b) și 6% (c).